Введение
Глава 1. Природа НЧ шума в барьерных структурах
1.1 Основные параметры и характеристики НЧ шума 10
1.2 Модели, описывающие механизмы генерации низкочастотного шума 14
1.3 Использование статистики Шокли-Рида для описания механизма генерации НЧ шума 22
1.4 Активационно-дрейфовая модель формирования НЧ шума в барьерных структурах 24
1.5 Зависимость характеристик НЧ шума от внешних факторов 28
Выводы по главе 1 39
Глава 2. Развитие активационно-дрейфовой модели генерации НЧ шума в барьерах Шоттки и несимметричных р-n перходах
2.1 Зависимость времени релаксации активационно-дрейфового процесса от напряжённости поля в ОПЗ 41
2.2 Зависимость плотности мощности НЧ шума на фиксированной частоте от величины напряжения обратного смещения 51
Выводы по главе 2 59
Глава 3. Разработка автоматизированной экспериментальной установки для исследования НЧ шума
3.1 Основные требования к методике измерения зависимости СПМ НЧ шума от напряжения смещения 61
3.2 Требования к измерительной установке 63
3.3 Функциональная схема установки 67
3.4 Разработка программного обеспечения 75
3.5 Параметры разработанной установки 83
3.6 Способ выделения частоты изменения наклона кривой аппроксимирующей спектр НЧ шума 87
3.7 Методика эксперимента 91
Выводы по главе 3 93
Глава 4. Исследование спектров НЧ шума полупроводниковых структур с барьером Шоттки
4.1 Исследование спектров НЧ шума детекторов заряженных частиц и рентгеновского излучения на основе Al/i-GaAs 95
4.2 Исследование вольт-шумовых характеристик детекторов заряженных частиц 101
4.3 Исследование мощных кремниевых диодов Шоттки с помощью спектроскопии НЧ шума 108
Выводы по главе 4 119
Основные результаты и выводы 121
Литература
