Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов

Адамян Александр Гариивич. Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов : Дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 : Воронеж, 2003 96 c. РГБ ОД, 61:04-5/1791
Автор
Адамян Александр Гариивич
Год
2003
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
Глава 1 Методы неразрушающего диагностического контроля полупроводниковых изделий 7
1.1. Общие требования 7
1.2. Критерии прогнозирования потенциальной ненадежности ИС по внезапным и параметрическим отказам 12
1.3. Использование воздействия электростатических разрядов и последующего отжига в диагностических методах 16
1.3.1. Катастрофические и параметрические отказы полупроводниковых изделий 16
1.3.2. Отжиг электростатических дефектов 21
1.3.3. Пример метода разделения партий ИС по стойкости к электростатическим разрядам23
Выводы к главе 1 26
Глава 2 Влияние электростатического воздействия на транзисторы кп728е1 27
2.1. Конструктивно-технологические особенности транзисторов КП728Е1 27
2.2. Определение допустимого потенциала электростатических зарядов 31
2.3. Стойкость транзисторов к ЭСР различной полярности 32
2.3.1. Методика проведения работы 32
2.3.2. Испытания, проводимые при комнатной температуре .34
2.3.3. Испытания, проводимые при температуре О С и 100 С 36
2.4. Влияние термоциклирования на стойкость к воздействию ЭСР 40
2.5. Работоспособность транзисторов и воздействие ЭСР 41
2.6. Влияние механических воздействий на стойкость к ЭСР 43
2.7. Влияние различных воздействий и ЭСР на поведение электрических параметров транзисторов 48
2.7.1. Ток утечки затвора 48
2.7.2. Остаточный ток стока 49
2.7.3. Напряжение «затвор-исток» пороговое 50
2.8. Способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов 54
Выводы к главе 2 57
Глава 3 Методы разделения партий транзисторов по стойкости К ЭСР 58
3.1. Конструктивно-технологические особенности транзисторов типов КТ315 и КТ361 58
3.2. Стойкость транзисторов типов КТ315 и КТ361 к воздействию ЭСР 61
3.3. Разработка способа разделения партий транзисторов по стойкости к воздействию ЭСР67
Выводы к главе 3 73
Глава 4 Выделение из партий ис группы схем повышенной надежности 74
4.1. Конструктивно-технологические особенности ИС типа КР561ЛН2 74
4.2. Стойкость ИС типа КР561ЛН2 к воздействию ЭСР 80
4.3. Разработка метода выделения из партии ИС группы схем повышенной надежности84
Выводы к главе 4 88
Основные результаты и выводы 89
Список литературы 90

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Ларионов Алексей Александрович
Количество страниц
Год
2002
99 000 UZS
Автор
Гомжин Иван Васильевич
Количество страниц
Год
2003
99 000 UZS
Автор
Лысенко Игорь Евгеньевич
Количество страниц
Год
2002
99 000 UZS
Автор
Прудан Александр Михайлович
Количество страниц
Год
2002
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3