Диагностика источников электронов по двумерным изображениям

Чебуркин Александр Николаевич. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01.- Москва, 2001.- 126 с.: ил. РГБ ОД, 61 02-1/180-0
Автор
Чебуркин Александр Николаевич
Год
2001

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Физико-технологические основы травления арсенида галлия в низкотемпературной химически активной плазме магнетронного разряда при производстве изделий электронной техники
99 000 UZS
Автор
Беневоленский, Сергей Борисович
Количество страниц
Год
2000
Фотоприемные структуры на основе аморфного гидрогенизированного кремния
99 000 UZS
Автор
Богданов Александр Александрович
Количество страниц
Год
2000
Развитие и применение методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования свойств точечных контактов
99 000 UZS
Автор
Дремов Вячеслав Всеволодович
Количество страниц
Год
2001
Формирование диэлектрических слоев интегральных схем методами химического осаждения
99 000 UZS
Автор
Воротилов, Константин Анатольевич
Количество страниц
Год
2000
Методы построения источников опорного напряжения в составе интегральных микросхем
99 000 UZS
Автор
Гулевич, Павел Владимирович
Количество страниц
Год
2000
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3