Введение
ГЛАВА 1. Методы и параметры расчета 19
1. Методы вычислений 19
1.1. Основные положения метода функционала плотности 20
1.2. Пакеты прикладных программ
2. Метод подрешеток 26
3. Выбор параметров расчета 29
ГЛАВА 2. Кристаллическая, электронная и колебательная структура кристаллов с решеткой дефектного халькопирита
2.1. Кристаллическая структура 31
2.1.1. Структура халькопирита 31
2.1.2. Структура кристобалита 32
2.1.3. Структура виллемита 35
2.2. Электронная структура 36
2.2.1. Зонная структура и плотность состояний кристаллов AX2 36
2.2.2. Зонная структура и плотность состояний Zn2SiO4 53
2.2.3. Генезис зонной структуры кристаллов Zn2SiO4 из подрешеточных состояний 56
2.3. Химическая связь в кристаллах со структурой дефектного халькопирита 58
2.3.1. Распределение плотности заряда валентных электронов 58
2.3.2. Разностная плотность заряда валентных электронов
2.4. Динамика решетки кристаллов со структурой дефектного халькопирита 65
2.5. Физико-химические свойства кристаллов CO2, SiO2, SiS2, GeS2 и ZnCl2
2.5.1. Упругие постоянные и механические свойства 77
2.5.2. Микротвердость и параметр Грюнайзена 81
2.5.3. Термодинамические свойства 84
2.6. Основные результаты и выводы 85
ГЛАВА 3. Электронное строение и химическая связь в полностью заполненных кристаллах m/ax2 с решеткой халькопирита 91
3.1. Зонная структура и плотность состояний композитов M/SiO2 92
3.2. Химическая связь в композитах M/SiO2 со структурой халькопиритf 98
3.3. Основные результаты и выводы 101
Заключение 102
Список литературы
