Введение
Глава 1. Методологические вопросы измерения обобщенных параметров многополюсных электрических цепей 19
1.1. Вводные замечания 19
1.2. Вопросы синтеза моделей объектов измерений для сложных многополюсных цепей 21
1.3. Способы инвариантного преобразования параметров сложных многополюсных цепей.. 24
1.4. Вопросы моделирования объектов в виде МЭЦ и оценка измеряемое параметров их ветвей 28
1.5. Алгоритмы топологического преобразования сложных МЭЦ 38
Основные результаты и выводы по главе 1 48
Глава 2. Методы внутрисхемного контроля параметров активных элементов и характеристик нелинейных двухполюсников 50
2.1. Вводные замечания 50
2.2. Проблемы и ограничения при внутрисхемном контроле активных элементов 53
2.3. Внутрисхемные измерения тока потребления активных элементов 60
2.4. Специализированные методы внутрисхемного контроля операционных усилителей 73
2.5. Измерение и контроль параметров и характеристик нелинейных элементов 86
2.5.1. Кибернетические модели нелинейных систем 86
2.5.2. Математические модели нелинейных элементов 90
Основные результаты и выводы по главе 2 94
Глава 3. Измерение характеристик нелинейных двухполюсников 96
3.1. Вводные замечания 96
3.2. Свойства модели Гаммерштейна-Чебышева 97
3.3. Измерение характеристик нелинейных элементов при синусоидальных входных воздействиях (способ промежуточного Фурье-анализа) 103
3.4 Алгоритмический способ минимизации погрешностей, обусловлен ных аппроксимацией многочленами Чебышева 114
3.5. Инструментальные погрешности и ограничения способа промежу точного Фурье-анализа 126
3.5.1. Виды инструментальных погрешностей 126
3.5.2. Погрешности от влияния неточностей фазирования начала отсчетов 127
3.5.3. Погрешности, обусловленные влиянием шумов квантования АЦП 130
3.5.4. Погрешности, обусловленные нелинейными искажениями генера тора синусоидального сигнала 132
3.5.5.Погрешности от влияния размера шага дискретизации АЦП... 135
3.5.6. Погрешности, обусловленные влиянием конечного сопротивления датчика тока 136
3.6. Применение модели Гаммерштейна-Чебышева для анализа и изме рения характеристик нелинейных элементов и систем 139
Основные результаты и выводы по главе 140
Глава4. Исследование измерительных преобразователей для внутрисхемного контроля токов активных элементов 142
4.1. Вводные замечания 142
4.2. Одноканальные структуры измерительных преобразователей для внутрисхемного контроля токов активных элементов 142
4.3. Двухканальная структура измерительного преобразователя для координированной локализации неисправностей 158
4.4. Измерительные преобразователи повышенной точности для внутрисхемного контроля токов активных элементов 161
4.5. Измерительные преобразователи для внутрисхемного контроля отношения токов транзисторов 172
Основные результаты и выводы по главе 4 186
Глава 5. Исследование методов внутрисхемного контроля операционных усилителей 187
5.1. Вводные замечания 187
5.2. Определение области допустимых значений контролируемых параметров 187
5.3. Исследование достоверности контроля операционных усилите лей 219
5.4. Аппаратурная реализация методов внутрисхемного контроля опе рационных усилителей 224
Основные результаты и выводы по главе 5 238
Глава 6. Моделирование измерительных преобразователей для внутрисхемного контроля параметров активных элементов 239
6.1. Задачи моделирования измерительных преобразователей 239
6.2. Методика моделирования измерительных преобразователей 242
6.3. Моделирование одноканальной структуры измерительного преобразователя для внутрисхемного контроля токов активных элементов 252
6.4. Моделирование измерительного преобразователя, построенного с использованием принципа разделения токовых и потенциальных це- пей 265
6.5. Моделирование измерительного преобразователя для внутрисхем ного контроля токов транзисторов. 271
Основные результаты и выводы по главе 6 281
Глава 7. Разработка приборов для внутрисхемного контроля активных элементов 282
7.1. В водные замечания 282
7.2. Тестер для контроля тока потребления интегральных схем на печатных платах 282
7.3. Тестер для контроля исправности операционных усилителей на печатных платах без выпаивания 288
7.4. Тестер для измерения коэффициента усиления по току транзисторов, вмонтированных в схему (ПКТ) 299
7.5. Приборы и системы для контроля и диагностики РЭА 319
7.5.1. Тестер внутрисхемного контроля RC элементов АМЦ 15201...319
7.5.2. Микропроцессорный тестер внутрисхемного контроля электрора-диоизделий АМЦ 15204 322
7.5.3. Прибор автоматизированного допускового контроля параметров электрических целей электронного блока управления экономайзером (ПАК) 325
7.6. Применение разработанных методов в других областях 328
Основные результаты и выводы по главе 7 337
Заключение 337
Основные результаты и выводы по работе 338
Перечень принятых сокращений 341
Список литературы 346
Приложение А
