Введение
ГЛАВА I. Физические принципы рентгеновской рефлектометрии . 11
1.1. Оптические функции вещества. 11
1.2. Поляризация света. 14
1.3. Физические принципы спектроскопии отражения и рассеяния. 18
1.3.1. Отражение рентгеновского излучения от идеальной поверхности. Полное внешнее отражение . 18
1.3.2. Ближняя тонкая структура спектров поглощения. 22
1.3.3. Глубина формирования отраженного излучения, 26
1.3.4. Отражение и рассеяние рентгеновского излучения реальными поверхностями. 28
1.4. Взаимодействие рентгеновского излучения с анизотропными средами. 34
1.4.1. Пространственная дисперсия. 34
1.4.2. Оптические свойства кристаллов , 36
1.4.3. Взаимодействие одноосных кристаллов с поляризованным излучением. 39
ГЛАВА II. Техника и методика эксперимента.
2.1 Поляриметр. 41
2.2. MOGOTEX. 48
2.3. Характеристика образцов. 52
ГЛАВА III Поляризационные зависимости спектров отражения и поглощения гексагонального нитрида бора вблизи к-порога ионизации бора . 56
3.1. Анизотропный кристалл BNreKC. Специфика взаимодействия с рентгеновским излучением. 56
3.2. Поляризационные и угловые зависимости спектров отражения и поглощения BNreKc . 59
ГЛАВА IV. Поляризационные и ориентационные зависимости спектров отражения и поглощения гексагонального сульфида кадмия . 76
4.1 Особенности кристаллического строения CdSrcKC. 76
4.2 Ориентационные и угловые зависимости спектров отражения и поглощения CdSrCKC вблизи К-порога ионизации серы . 78
4.3 Поляризационные и угловые зависимости спектров отражения и поглощения CdSreKC вблизи І^.з-порога ионизации серы. 94
4.4 Поляризационные и угловые зависимости спектров отражения и поглощения CdSreKC вблизи М^порога ионизации кадмия. 108
ГЛАВА V. Обратная задача рентгеновской рефлектометрии 115
5.1. Угловые зависимости коэффициента отражения системы Si02/Si. П6
5.2. Оптические постоянные системы Si02/Si, рассчитанные в трех различных моделях. 120
Результаты и выводы, 14У
Литература 142
