Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур

Сеннов Руслан Александрович. Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.27.01.- Черноголовка, 2005.- 134 с.: ил. РГБ ОД, 61 06-1/356
Автор
Сеннов Руслан Александрович
Год
2005

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Исследование и разработка конструктивно-технологических решений создания планарных мощных МОП-транзисторов с повышенным значением пробивного напряжения для интеллектуальных силовых интегральных схем
99 000 UZS
Автор
Красюков Антон Юрьевич
Количество страниц
Год
2005
Проблемы проектирования интегральных тензопреобразователей давления на основе слоев поликристаллического кремния
99 000 UZS
Автор
Любимский Владимир Михайлович
Количество страниц
Год
2005
Алгоритмы помехоустойчивой связи и элементная база для их реализации
99 000 UZS
Автор
Бирюков Петр Геннадьевич
Количество страниц
Год
2004
Формирование и исследование электрофизических свойств планарных структур на основе углеродных нанотрубок
99 000 UZS
Автор
Бобринецкий Иван Иванович
Количество страниц
Год
2004
Разработка конструкций и технологий производства изделий знакосинтезирующей электроники
99 000 UZS
Автор
Кузьмин Николай Геннадьевич
Количество страниц
Год
2005
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3