Введение
ГЛАВА 1. Влияние технологических погрешностей элементов на характеристики интегральных микросхем 10
1.1. Источники технологических погрешностей элементов 10
1.1.1. Особенности современной элементной базы микросхем 10
1.1.2. Групповые отклонения параметров 15
1.1.3. Взаимное рассогласование 18
1.2. Расчет отклонений характеристик интегральных микросхем 21
1.2.1. Метод статистических испытаний 22
1.2.2. Аналитический метод статистического расчета 24
ГЛАВА 2. Точность характеристик субмикронных источников опорного напряжения 29
2.1. Оценка точности выходного напряжения «классической» архитектуры источника опорного напряжения с отражателями тока 29
2.2. Точность выходного напряжения «модифицированной» архитектуры ИОН 40
2.3. Оценка точности «классической» архитектуры ИОН с повторителем напряжения 47
2.4. Влияние рассогласования элементов на точность отражателей тока и операционного усилителя 52
2.5. Особенности низковольтных источников опорного напряжения 60
2.6. Сопоставительный анализ субмикронных источников опорного напряжения 64
ГЛАВА 3. Прецизионный бикмоп стабилизатор напряжения 67
3.1. Классификация и основные свойства современных стабилизаторов напряжения 67
3.2. Основные принципы работы стабилизаторов с низким падением напряжения на регулирующем элементе 68
3.3. Оценка точности выходного напряжения стабилизатора напряжения с низким проходным напряжением 72
ГЛАВА 4. Характеристики бикмоп стабилизаторов напряжения в технологическом базисе 180 НМ 76
4.1. Схемотехника линейных стабилизаторов напряжения 76
4.1.1. Источники опорного напряжения 77
4.1.2. Усилитель ошибки 84
4.1.3. Схема ограничения выходного тока 86
4.1.4. Схема температурной защиты 88
4.2. Анализ шумовых параметров и устойчивости линейных стабилизаторов напряжения 90
4.3. Основные характеристики спроектированных стабилизаторов напряжения 93
Заключение 100
Список литературы 102
