Свойства пленок оксидов редкоземельных элементов и кремниевых МДП-структур на их основе

Родионов Максим Александрович. Свойства пленок оксидов редкоземельных элементов и кремниевых МДП-структур на их основе : Дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 Самара, 2005 133 с. РГБ ОД, 61:05-1/782
Автор
Родионов Максим Александрович
Год
2005
  • 99 000 UZS

Оглавление диссертации
Введение
1. Редкоземельные элементы и их оксиды ... ..:.13
1.1. Редкоземельные металлы , 13
1.2. Структура оксидов редкоземельных элементов 17
1.3. Свойства оксидов редкоземельных элементов и МДМ- и МДП- структур на их основе 22
2. Методика получения образцов и измерения их характеристик 32
2.1. Методика изготовления образцов 32
2.2. Методика измерений и экспериментальные установки 35
3. Электрофизические свойства кремниевых мдп-структур с диэлектрическими пленками из оксидов редкоземельных элементов 43
3.1. Электропроводность кремниевых МДП-структур с ОРЗЭ в качестве
диэлектрика при постоянном напряжении 43
3.2. Проводимость и диэлектрические потери в кремниевых МДП-структурах с оксидами РЗЭ на переменном сигнале 50
3.3. Вольт-фарадные характеристики кремниевых МДП-структур с оксидами РЗЭ в качестве диэлектрика 54
3.4. Исследование генерационных процессов в кремниевых МДП-
структурах 59
3.5. Влияние температуры окисления двухслойной пленки из РЗМ на
характеристики МДП-структур 65
4. Фотоэлектрические свойства кремниевых мдп-структур с оксидом эрбия в качестве диэлектрика
4.1. Методика определения высот энергетических барьеров на межфазовых границах МДП-систем 71
4.2. Анализ спектральных зависимостей фототока МДП-структур Al-Er20,-Si 77
4.3. Анализ вольтаических зависимостей фототока 81
5. Параметры активных центров захвата в мдп-структурах Al-Er203~Si? 89
5.1. Методика определения локализации и плотности захваченного в объеме диэлектрика заряда 89
5.2. Определение величины и центроида заряда, захваченного в диэлектрической пленке оксида эрбия 93
5.3. Энергетическая глубина залегания электронных ловушек в пленках оксида эрбия 96
5.4. Исследование особенностей накопления заряда в структурах А1- Er203 ~Si под влиянием ультрафиолетового излучения 97
6. Просветляющие свойства пленок оксида эрбия. рекомбинационные свойства кремния, пассивированного пленками орзэ 102
6.1. Оптические и просветляющие свойства пленок оксида эрбия 103
6.2. Рекомбинационные свойства кремния, пассивированного пленками оксидов РЗЭ 107
Заключение 114
Список использованных источников

Рекомендуем вам товары

99 000 UZS
Автор
Павлык Александр Владимирович
Количество страниц
Год
2005
99 000 UZS
Автор
Парамонов Андрей Викторович
Количество страниц
Год
2005
99 000 UZS
Автор
Романов Константин Сергеевич
Количество страниц
Год
2005
99 000 UZS
Автор
Попов Владимир Павлович
Количество страниц
Год
2005
99 000 UZS
Автор
Посредник Олеся Валерьевна
Количество страниц
Год
2005
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3