Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов

Тюриков Александр Валерьевич. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : Дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 : Ижевск, 2004 174 c. РГБ ОД, 61:05-1/439
Автор
Тюриков Александр Валерьевич
Год
2004

  • 99 000 UZS

Рекомендуем вам товары

Разработка методики применения анализа временных рядов в контрольных картах и системе обратной связи при управлении технологическим процессом
99 000 UZS
Автор
Суханова Жанна Борисовна
Количество страниц
Год
2003
Разработка рациональной технологии приготовления ординарных крепленых вин типа портвейна белого из прессовых фракций сусла
99 000 UZS
Автор
Мякиев, Борис Магометович
Количество страниц
Год
2007
Разработка усовершенствованной аппаратурно-технологической схемы приготовления белых столовых и шампанских виноматериалов
99 000 UZS
Автор
Селимов Джамалхан Шахбабаевич
Количество страниц
Год
Разработка способа интенсификации осветления виноградного сусла и крепленых виноматериалов
99 000 UZS
Автор
Сидорова Екатерина Андреевна
Количество страниц
Год
Разработка технологии производства крепких яблочных и грушевых напитков
99 000 UZS
Автор
Твилдиани, Мухран Чичикоевич
Количество страниц
Год
Новостной блок
Модули для Opencart 2, Опенкарт 3